產(chan)品簡(jian)介

廣泛適(shi)用於農(nong)業(ye)、園(yuan)藝(yi)、林(lin)業(ye)領(ling)域(yu)有(you)關栽(zai)培(pei)、育種、 植(zhi)物(wu)群體(ti)對(dui)比(bi)與(yu)發(fa)展的
研(yan)究(jiu)與(yu)教(jiao)學中(zhong)農(nong)作(zuo)物、果(guo)樹(shu)、森(sen)林(lin)內(nei)冠層(ceng)受(shou)光(guang)狀況的測量和分(fen)析。能(neng)測算(suan)植物(wu)冠層(ceng)的(de)太陽(yang)直射(she)光(guang)透(tou)過(guo)率(lv)、天(tian)空散(san)射(she)光(guang)透(tou)過(guo)率(lv)、冠(guan)層(ceng)的(de)消光(guang)系(xi)數(shu)，葉(ye)面積指數(shu)和(he)葉片(pian)平均傾(qing)角(jiao)等(deng)。

壹(yi)、功(gong)能(neng)  
  廣泛適(shi)用於農(nong)業(ye)、園(yuan)藝(yi)、林(lin)業(ye)領(ling)域(yu)有(you)關栽(zai)培(pei)、育種、 植(zhi)物(wu)群體(ti)對(dui)比(bi)與(yu)發(fa)展的
研(yan)究(jiu)與(yu)教(jiao)學中(zhong)農(nong)作(zuo)物、果(guo)樹(shu)、森(sen)林(lin)內(nei)冠層(ceng)受(shou)光(guang)狀況的測量和分(fen)析。能(neng)測算(suan)植物(wu)冠層(ceng)的(de)太陽(yang)直射(she)光(guang)透(tou)過(guo)率(lv)、天(tian)空散(san)射(she)光(guang)透(tou)過(guo)率(lv)、冠(guan)層(ceng)的(de)消光(guang)系(xi)數(shu)，葉(ye)面積指數(shu)和(he)葉片(pian)平均傾(qing)角(jiao)等(deng)。
二、原理(li)和方法
  采用了(le)冠(guan)層(ceng)孔(kong)隙(xi)率(lv)與(yu)冠(guan)層(ceng)結構(gou)相(xiang)關(guan)的(de)原理(li)。它是(shi)根據光(guang)線(xian)穿過介質減(jian)弱(ruo)的(de)比(bi)爾(er)定律，在(zai)對(dui)植(zhi)物(wu)冠層(ceng)定(ding)義(yi)了(le)壹(yi)系(xi)列(lie)假(jia)設前提(ti)的條(tiao)件下，采用半理(li)論半(ban)經驗(yan)的(de)公(gong)式(shi)，通過冠(guan)層(ceng)孔(kong)隙(xi)率(lv)的(de)測定，計(ji)算(suan)出冠(guan)層(ceng)結構(gou)參數(shu)。采用的是(shi)對(dui)冠(guan)層(ceng)下(xia)天穹半(ban)球(qiu)圖(tu)像分(fen)析測量冠層(ceng)孔(kong)隙(xi)率(lv)的(de)方法。
三、特點(dian)
1.非破壞(huai)性(xing)地(di)測定冠(guan)層(ceng)結構(gou)
2.可以(yi)測量冠層(ceng)內(nei)外的光(guang)合(he)有(you)效輻射(she)（PAR）
3.手持(chi)式(shi)萬(wan)向接(jie)頭(tou)自動(dong)水(shui)平調(tiao)整(zheng)探(tan)頭，
4.隨身攜(xie)帶(dai)的(de)筆(bi)記本(ben)計算(suan)機(ji)可(ke)以幫(bang)助(zhu)妳正確選點(dian)取樣，即時決定(ding)圖(tu)像的(de)取舍
5.由計算(suan)機(ji)電池提(ti)供電源(yuan)極(ji)其(qi)輕(qing)便、便於(yu)觀(guan)測，尤(you)其(qi)適(shi)合(he)完(wan)成野(ye)外繁(fan)重的觀(guan)測任務
6. 圖(tu)像分(fen)析軟(ruan)件(jian)可以(yi)任意(yi)定義(yi)圖(tu)像分(fen)析區域(yu)（天(tian)頂角(jiao)可(ke)分(fen)10區，方位(wei)角(jiao)可(ke)分(fen)10區）。對(dui)不(bu)同(tong)方向的(de)冠(guan)層(ceng)進(jin)行區域(yu)性(xing)分(fen)析時，可以(yi)任意(yi)屏蔽地(di)物景(jing)像和(he)不合(he)理(li) 的冠(guan)層(ceng)部分(fen)（如缺(que)株(zhu)、邊行(xing)問題等）。對(dui)不(bu)同(tong)天頂角(jiao)起(qi)始(shi)角(jiao)和(he)終(zhong)止角的選擇，可以(yi)避開不(bu)符(fu)合(he)計(ji)算(suan)該(gai)冠層(ceng)結構(gou)參數(shu)的(de)冠層(ceng)孔(kong)隙(xi)條(tiao)件 
7.通過USB接(jie)口(kou)直(zhi)接(jie)將(jiang)測點(dian)圖(tu)像顯示在(zai)計算(suan)機(ji)上(shang)，可以在(zai)野外即時觀(guan)察圖(tu)像，選擇合(he)理(li)的測點(dian)，將(jiang)圖(tu)像存貯。
8.半球(qiu)圖(tu)象(xiang)上可(ke)以設(she)計任何地(di)點(dian)、任何時間的(de)太陽(yang)視運(yun)動(dong)軌(gui)跡，以及冠(guan)層(ceng)內(nei)任意(yi)時刻(ke)的(de)受(shou)光(guang)狀況。
四、技術(shu)參數(shu)
1.鏡(jing)頭角(jiao)度：150°（或用戶(hu)自選180°鏡(jing)頭。除(chu)用(yong)戶(hu)有(you)特殊需要，180°魚(yu)眼(yan)鏡(jing)頭經(jing)
常不(bu)適合(he)孔(kong)隙(xi)率(lv)測量原理(li)與(yu)方法所(suo)假(jia)設的(de)前提(ti)條件(jian)，用於冠層(ceng)結構(gou)分(fen)析是(shi)不適(shi)宜(yi)
和不(bu)經濟的）。
2.分(fen)辨率(lv)：768×494pix
3.測量範圍：天頂角(jiao)由0°～75°（150°魚眼(yan)鏡(jing)頭）可(ke)分(fen)割成十個區域(yu)，方位(wei)角(jiao)360°亦(yi)可(ke)分(fen)割成十個區域(yu)。
4．PAR感應(ying)範圍：感應(ying)光(guang)譜400～700nm。   測量範圍0～2700μmol/m2?s
5.分(fen)析軟(ruan)件(jian)：專業(ye)ECA-GC02軟(ruan)件(jian)。
6.顯示和(he)內(nei)存：筆(bi)記本(ben)電腦(nao)為(wei)準（自配(pei)）。
7.電 池：電腦(nao)電池。
8.傳輸(shu)接(jie)口(kou)：USB
9.工(gong)作(zuo)溫度：0～55℃